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Application Test Configurations
FR014H5JZ
I IN
POS
CTL
NEG
Power Source
(USB Connector)
V IN
USB Device
Circuit
Protected USB Device Circuit
Figure 13. Typical Application Circuit for USB Applications
Q1-1
5,6
FR014H5JZ
FDS8858CZ
3 S2
4 G2
D2
POS
i IN
CTL
NEG
R1
C1
7,8 D1
Q1-2
FDS8858CZ
2 G1
R2
1 S1
R3
C2
Figure 14. Startup Test Circuit – Normal Bias with FR014H5JZ
? 2012 Fairchild Semiconductor Corporation
FR014H5JZ ? Rev. C2
7
www.fairchildsemi.com
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